Sfoglia Dipartimento di Ingegneria Informatica, Modellistica, Elettronica e Sistemistica - Tesi di Dottorato per Soggetto "Metal oxide semiconductors"

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  • <<A>> Defect-Centric analysis of the channel hot carrier degradation 

    Pròcel-Moya, Luis-Miguel; Pantano, Pietro; Crupi, Felice (2016-02-02)
    Durante l'ultimo decennio, il channel hot carrier (CHC) e stato considerato uno dei pi u importanti meccanismi di degrado della moderna tecnologia CMOS. La degradazione CHC si veri- ca quando un voltaggio superiore a ...

  • SiGe BicMOS Building Blocks for 5G Applications 

    Calzona, Domenico; Crupi, Felice; Boccia, Luigi; Arnieri, Emilio (2019-01-18)
    SiGe BiCMOS semiconductor technology has been increasing its application domain especially for the development of complex microwave monolithically integrated circuits (MMIC) required for modern telecommunication systems. ...