Sfoglia Dipartimento di Ingegneria Informatica, Modellistica, Elettronica e Sistemistica - Tesi di Dottorato per Soggetto "Transistor circuits"
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<<A>> Defect-Centric analysis of the channel hot carrier degradation
(2016-02-02)Durante l'ultimo decennio, il channel hot carrier (CHC) e stato considerato uno dei pi u importanti meccanismi di degrado della moderna tecnologia CMOS. La degradazione CHC si veri- ca quando un voltaggio superiore a ...