• <<A>> Defect-Centric analysis of the channel hot carrier degradation 

    Pròcel-Moya, Luis-Miguel; Pantano, Pietro; Crupi, Felice (2016-02-02)
    Durante l'ultimo decennio, il channel hot carrier (CHC) e stato considerato uno dei pi u importanti meccanismi di degrado della moderna tecnologia CMOS. La degradazione CHC si veri- ca quando un voltaggio superiore a ...